پرش به محتوای اصلی

روش جدید اشعه ایکس سیگنال های ضعیف را از آب در سطوح مواد جدا می کند

فیزیک‌ارگ۱۴۰۵ آبان ۸, جمعه، ساعت ۰۴:۵۰حدود 1 دقیقه مطالعه

یک تیم تحقیقاتی از دانشگاه صنعتی تویوهاشی، موسسه علوم مولکولی و موسسه علوم توکیو به رهبری یو کینجو و پروفسور ریوگو ترو از دانشگاه فناوری تویوهاشی، روش جدیدی را برای بررسی وضعیت آب در نزدیکی سطوح مواد با استفاده از اشعه ایکس توسعه داده‌اند. محققان با ترکیب طیف‌سنجی جذب اشعه ایکس با تجزیه و تحلیل داده‌ها، سیگنال‌های ضعیف…

یک تیم تحقیقاتی از دانشگاه صنعتی تویوهاشی، موسسه علوم مولکولی و موسسه علوم توکیو به رهبری یو کینجو و پروفسور ریوگو ترو از دانشگاه فناوری تویوهاشی، روش جدیدی را برای بررسی وضعیت آب در نزدیکی سطوح مواد با استفاده از اشعه ایکس توسعه داده‌اند. محققان با ترکیب طیف‌سنجی جذب اشعه ایکس با تجزیه و تحلیل داده‌ها، سیگنال‌های ضعیف آب سطحی را از سیگنال‌های مقدار بسیار بیشتر آب اطراف جدا کردند.

خواندن متن کامل در فیزیک‌ارگبه زبان اصلی، در سایت ناشر باز می‌شود
متن اصلی (انگلیسی)

New X-ray method isolates faint signals from water at material surfaces

A research team from Toyohashi University of Technology, the Institute for Molecular Science and the Institute of Science Tokyo, led by Yu Kinjo and professor Ryugo Tero of Toyohashi University of Technology, has developed a new method to investigate the state of water near material surfaces using X-rays. By combining X-ray absorption spectroscopy with data analysis, the researchers separated the weak signals of…

همه‌ی اخبار فناوری