خواندن فراتر از قله ها: آنالیز نوری پیچیدگی طیفی را در لایه های نیمه هادی پیچ خورده رمزگشایی می کند.

Reading beyond the peaks: Optical analysis decodes spectral complexity in twisted semiconductor layers

A study from the Research Center for Materials Nanoarchitectonics (MANA), one of the centers under the National Institute for Materials Science (NIMS), presents a new method to reveal hidden material disorder reflected in complex photoluminescence spectra, paving the way for new optical diagnostics of material disorder in two-dimensional semiconductors and related light-emitting materials.